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Formation continue analytique 2009/2010
GC-5f Troubleshooting en GC-MS
But
Vous serez en mesure d'établir les liens entre symptômes et solutions aux problèmes de dépannage en GC/MS, ainsi qu'identifier les tâches d'entretien de l'équipement et de ses composants.
Contenu
- Rappel sur la technique GC/MS
- Composants foctionnels d'un GC/MS
- Système de vide et mesure
- Interface pour la GC/MS
- Colonnes pour la GC/MS
- Source d'ions; opérations de maintenance préventive
- Focalisation, quadripôle et EM
- Réglage de l'appareil et diagnostic
- Localisation des fuites
- Problèmes de contamination
- Problèmes de contamination et dépannage associés à l'injection de l'échantillon
- Optimisation des analyses de traces et d'échantillons complexes
- Optimisation de systèmes GC/MS équipés avec micro-splitters, détecteurs complémentaires, systèmes à deux colonnes
Personnes concernées
Personnel de laboratoire, spécialistes, chercheurs et utilisateurs de la technique GC/MS confrontés aux problèmes de dépannage et d'optimisation.
Méthodes utilisées
Exposés, exercices, discussions, pas de travaux pratiques sur des instruments.
Enseignant
Dr. Vittorio Raverdino, MsChrom-Versoix
Lieu/Date
Pavillon Ansermet,
Genève
06 mai 2010
Droits d'inscription
| Membre
de CCCTA, FLB, SASP, SATW, SGMS, SCS, SCV, SLV, SGLUC: |
Fr. 450.-- | |
|---|---|---|
| Non membre: | Fr. 600.-- | |
| Etudiants, personnes à la recherche d'un emploi (avec justificatif du chômage): | Fr. 250.-- | |
(+ TVA légale)
Informations supplémentaires
http://www.sach.ch/ausb_f.html
Formulaire d'inscription
http://www.sach.ch/formausb_f.html